安捷伦Agilent 7900 ICP-MS

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Agilent 7900 ICP-MS 是一款灵活的单四极杆电感耦合等离子体质谱仪，可提供非常出色的基质耐受性、有效的氦碰撞模式、超低的检出限和宽广的动态范围。因此，无论样品类型如何，您都可以确信始终报告准确的数据，即使在痕量分析中也是如此。

7900 ICP-MS 为要求苛刻的商业和工业应用提供了理想的性能，灵敏度高且能够快速采集瞬时信号，可满足单纳米颗粒 (spICP-MS)、单细胞分析和激光剥蚀的要求。此外，其具有研究和高级分析（例如形态分析）所需的灵活性，让您能够在竞争中脱颖而出。

超稳定的（低 CeO/Ce）等离子体可提供出色的基质耐受能力
• 超高基质进样系统 (UHMI) 使您能够运行总溶解固体量 (TDS) 高达 25% 的样品
• 氦 (He) 池气体模式能够可靠地控制多原子干扰，从而改善准确度
• 离轴透镜可在整个质量范围内提供高灵敏度和低检测限
• 宽动态范围检测器使您可以在同一次样品运行中分析常量和痕量元素
• 快速积分（驻留时间 0.1 ms）支持分析快速瞬态信号，例如单纳米颗粒 (spICP-MS)
• ICP-MS MassHunter 方法向导可帮助您自动构建方法
• 配置灵活，可轻松连接至可选附件和外围设备，适用于高级应用

安捷伦Agilent 7900 ICP-MS

安捷伦 Agilent 7900 ICP-MS使用手册

什么是 ICP-MS？
我们周围的一切事物都是由不同的元素组合而成的。当分析人员需要鉴定某种物质由哪些元素组成时，他们通常会使用一种叫作电感耦合等离子体质谱 (ICP-MS) 的技术。ICP-MS 是一种元素分析技术，用于测量元素，而 LC/MS 和 GC/MS 则用于测量分子和化合物。
ICP-MS 使用氩 (Ar) 等离子体，其中 ICP 将样品转化为离子，然后使用质谱仪 (MS) 进行测量。ICP-MS 与电感耦合等离子体发射光谱 (ICP-OES) 类似，但 ICP-OES 使用光谱仪测量元素通过等离子体时发出的光，而 ICP-MS 则直接测量元素（离子）。这两种技术都可以快速分析样品中的多种元素，但 ICP-MS 的检测限远低于 ICP-OES，因此是痕量元素分析的更好选择。
ICP-MS 仪器由离子源 (ICP)、质谱仪 (MS)（通常是扫描四极杆质量过滤器）和检测器组成。ICP 处于大气压下，而 MS 和检测器则在真空室中运行，因此 ICP-MS 还需要一个真空泵、一个真空接口以及一些静电离子“透镜”来聚焦离子通过系统。现代 ICP-MS 系统通常还包含一些用于解决谱图干扰问题的设备或机制。

ICP-MS 仪器的主要组件。
ICP-MS 通常用于分析液体样品（如水）或可以溶解或酸消解成溶液的样品。但 ICP-MS 的应用范围广泛，可以轻松测量有机溶剂，检测非常小的（纳米）颗粒，或连接各种附件以便直接分析固体材料或气体。ICP-MS 还可以与色谱分离设备（例如 HPLC、IC、GC、CE 或场流分离 (FFF)）联用，提供关于样品中每种元素的不同化学形式或“形态”的信息。此外，作为一种质谱技术，ICP-MS 还可以分离和测量元素的各种同位素，因此可用于关注同位素丰度或同位素比值的应用。
ICP-MS 分析可用于从常规环境监测、消费品检测、食品和药品安全应用，到生命科学和临床研究、采矿和金属分析、地球化学、核科学和石化产品，再到用于半导体制造的高纯度化学品和材料中痕量金属污染物测量的几乎所有行业。
ICP-MS 几乎可以测量所有天然存在的元素以及许多非天然“放射性”同位素，例如锝、镎、钚和镅。ICP-MS 无法检测的元素只有 H 和 He（低于质谱仪的质量数范围），Ar、N 和 O（等离子体和空气中的含量水平较高）以及 F 和 Ne（在氩等离子体中无法电离）。在这些“无法检测”的元素中，即使 F 也可以使用串联四极杆 ICP-MS 进行间接分析。
ICP-MS 的应用范围如此广泛的一个原因在于，它为几乎所有可以检测的元素提供了极低的检测限。ICP-MS 可以检测低于 0.1 ppt 的多种元素，相当于 200 个奥运会标准尺寸游泳池（5 亿升）中的一滴水 (50 µL)。与此同时，ICP-MS 也可以检测浓度高达数百甚至数千 ppm 的元素。1000 ppm 即 0.1%，0.1 ppt–0.1% 的浓度范围涵盖了 10 个数量级。其他技术都不具备这样的宽元素覆盖范围、低检测限和宽测量范围。